北京
國家知識產權局信息顯示，上海市計量測試技術研究院有限公司申請一項名為“一種基于單染料標記與亞細胞器共定位檢測DNA納米結構狀態的方法”的專利，公開號CN121633036A，申請日期為2025年12月。
專利摘要顯示，本發明涉及一種基于單染料標記與亞細胞器共定位檢測DNA納米結構狀態的方法，所述檢測方法包括將連接染料的DNA納米結構與細胞進行孵育，檢測染料與細胞器的共定位系數；當染料與溶酶體的共定位系數＞0.5，則判斷DNA納米結構完整；當染料與線粒體的共定位系數＞0.5，則判斷DNA納米結構損壞；其余情況則判斷DNA納米結構部分完整。本發明通過基于單染料與亞細胞器共定位判斷DNA納米結構命運、檢測DNA納米結構完整性方法，不但可以利用DNA納米結構在細胞內亞細胞器的位置區分同種DNA納米結構不同條件下的完整或破壞狀態，還能檢測不同DNA納米結構的細胞內狀態。
天眼查資料顯示，上海市計量測試技術研究院有限公司，成立于2025年，位于上海市，是一家以從事研究和試驗發展為主的企業。企業注冊資本338000萬人民幣。通過天眼查大數據分析，上海市計量測試技術研究院有限公司參與招投標項目78次，專利信息347條，此外企業還擁有行政許可20個。
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本文源自：市場資訊
作者：情報員
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