這幾年,華為在芯片上的布局可謂非常廣泛,而在最近,山東大學和華為技術有限公司的一篇論文引發了關注。
山東大學和華為在中國使用氟(F)離子注入終端(FIT)在全垂直氮化鎵(GaN)硅基硅(Si)溝槽金屬氧化物半導體場效應晶體管(MOSFET)中實現了1200V擊穿性能。
那么,問題來了,垂直氮化鎵(GaN)到底是啥,這項研究的亮點是什么?
垂直GaN:把耐壓突破到1200V以上
目前,寬禁帶半導體(WBG)的格局基本可以歸納為:650V以下用GaN(氮化鎵),1200V以上用SiC(碳化硅)。
垂直GaN其實就代表著GaN的野心——取代1200V以上的SiC。
雖然SiC目前市場更廣泛,比如EV,但業界其實一直認為GaN的潛力更大,尤其是1200V以上的應用。如果將MOSFET和JFET等單極性功率器件的整體適用性與量化整體適用性的巴利加優值(Barriga)指數進行比較,4H-SiC為500,而GaN則高得多,為930。
但是,理想很豐滿,現實卻是GaN很難突破1200V。想要進一步突破耐壓,要么改善晶體質量本身,進一步減少體材料缺陷密度,要么換襯底,比如換成藍寶石襯底,要么就是從器件上改變——從橫向變成縱向/垂直(Vertical GaN)。
怎么理解垂直GaN?垂直GaN中“垂直”是指器件的結構,簡單可以理解為器件中陽極和陰極相對的位置,目前大多數硅基GaN器件是平面型結構,即陽極和陰極處于同一平面上,導通電流在器件中橫向流動;而垂直型GaN一般是基于GaN襯底,GaN襯底底面為陰極,陽極則位于上方,導通電流是豎向流動。
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(a)平面型GaN-on-Si與(b)垂直型GaN-on-GaN器件的典型結構
橫向GaN如果想要增加電壓,必須擴展器件從而增加芯片面積,而垂直GaN電壓在厚的低摻雜漂移層上下降,這樣就很容易做到更高電壓。此外,垂直GaN能夠顯著提高功率密度、開關速度、散熱性能、降低導通電阻RDS(on)、減少寄生電容、更易于產生雪崩效應(幫助器件吸收電涌)。
雖然好處多多,但制造起來是個難題,落地更難。究其原因,就是貴。現在行業主流的形式是GaN-on-Si或者GaN-on-SiC,但垂直GaN器件峰值電場往往出現在遠離表面的位置,所以主流采用同質襯底,即GaN自支撐,也就是GaN-on-GaN。目前來看,GaN自支撐外延片的成本較高,此外,目前GaN自支撐襯底的外延片尺寸較小,這就使得單個器件的成本更高。
目前,2英寸GaN襯底價格高達1.5萬元人民幣,對比起來,8英寸硅外延片的市場價不到300元。所以想要發展好垂直GaN,就需要強大的制造能力,以及一定市場量級。2017年,中國科技部啟動了“第三代半導體的襯底制備及同質外延”重點研發計劃,以推動GaN單晶襯底和垂直型GaN-on-GaN功率器件發展。
GaN-on-GaN太貴,所以人們又瞄準了GaN-on-Si。
華為的創新:用FIT替代MET
回到山東大學和華為的論文,該團隊創新地應用氟注入終端結構的1200V全垂直Si基GaN溝槽MOSFET(FIT-MOS),氟注入終端FIT區域固有的具有負性電荷成為阻性區域,天然的隔離器件,取代了傳統的mesa刻蝕終端(MET),消除了mesa邊緣的電場集中效應,從而將FIT-MOS的BV從MET-MOS的567V提升到1277V。
此外,所制造的FIT-MOS表現出3.3V的Vth,ON/OFF為達到了1e7,Ron,sp為5.6mΩ·cm2。這些結果表明,具有很好的性價比的Si基GaN垂直晶體管在kV級應用中具有很大的潛力。
通常,電隔離GaN半導體器件都采用了MET,但MET會導致相對尖銳的拐角,電場往往會擁擠,導致過早擊穿。MET-MOS全垂直MOSFET的擊穿電壓約為650V。而改革團隊的FIT-MOS器件的擊穿電壓達到1277V,提升了超125%。
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總得來說,華為FIT-MOS的垂直GaN的指標很不錯:
比導通電阻(Ron,sp):5.6mΩ·cm2
導通電流密度:8kA/cm2
開關電流比:10?
閾值電壓(VTH):3.3V(E-mode)
漂移層厚度:7μm
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(a)具有氟注入端接(FIT-MOS)的全垂直硅基氮化鎵溝槽MOSFET的結構示意圖和(b)橫截面掃描電子顯微鏡(SEM)圖像(溝槽柵極區域)
該團隊指出,功率GaN器件正在與SiC競爭。雖然GaN在100~650V級別具有良好的性能,但SiC往往在1200V應用中受到商業青睞。在低成本硅基板上的器件中實現1200V可能會使商業平衡向GaN傾斜。
全垂直晶體管是利用具有掩埋p-GaN層的GaN/硅金屬有機化學氣相沉積(MOCVD)外延材料制造而成。由AlGaN/AlN多層結構組成的導電緩沖層,能夠實現全垂直電流路徑,同時無需復雜的襯底工程工藝即可實現全垂直結構。該緩沖層還能提供壓應力,以補償在高溫MOCVD工藝后的冷卻過程中,上層GaN層可能產生的拉應力。研究人員通過X射線分析估算螺紋位錯密度為3.0×10?/cm2,而通過陰極熒光法得出的相應估算值為1.4×10?/cm2。
氟離子注入分別在三種能量(及劑量)下進行:240keV(4×101?)、140keV(2×101?)和80keV(1.2×101?/cm2)。原子層沉積(ALD)二氧化硅(SiO?)被用作柵極電介質。通過反應離子蝕刻打開源極接觸窗口,源極和柵極金屬均為鉻/金,漏極接觸由低電阻率硅襯底構成。氟離子可能會通過Ga空位擴散,進而從晶體管材料中逸出,對熱穩定性產生不利影響。
研究團隊寫道:“采用優化的注入后退火工藝,可有效降低關態泄漏電流密度,并提高FIT-MOS的熱可靠性。”仿真結果表明,FIT結構減少了電場擁擠現象,例如在MET-MOS晶體管的臺面拐角處出現的電場擁擠。
通過將FIT器件與此前報道的垂直GaN對比,結合擊穿電壓和導通電阻計算得出的 BV2/Ron,sp 巴利加優值(BFOM)為291MW/cm2,這一數值與在昂貴得多的本征GaN襯底上制備的器件相當。同時,與昂貴的GaN/GaN晶體管相比,FIT-MOS在漂移層更薄的情況下實現了相近的擊穿電壓性能——前者的漂移層厚度為7微米,而達到1200V擊穿電壓的GaN/GaN 晶體管漂移層厚度通常超過10微米。
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還有誰在推進垂直GaN
在垂直GaN領域,多家企業和機構積極布局,推動技術發展與產業化進程。
PI和ONsemi兩家巨頭,通過收購垂直GaN公司,進一步擴展自己的產品線。
2024年5月,Power Integrations(PI)宣布收購Odyssey資產,而Odyssey恰好是一家垂直GaN公司。Odyssey不止一次強調,其650V和1200V垂直GaN器件提供更低的導通電阻和更高的品質因數,其導通電阻僅為碳化硅 (SiC) 的十分之一,并且工作頻率顯著提高。2022年,Odyssey表示已獲得三個客戶的承諾來評估這些第一代產品樣品。2023年,Odyssey表示正在美國制造工作電壓為650V和1200V的垂直GaN FET晶體管樣品。
2025年1月,安森美(ONsemi)以2000萬美元的價格購買了位于紐約州德威特的原 NexGen Power Systems氮化鎵晶圓制造廠,包含NexGen的知識產權以及 NexGen所擁有的DeWitt工廠的設備。NexGen此前在垂直GaN領域頗有進展。2023年2月,NexGen宣布將提供700V和1200V的GaN樣品;2023年7月,NexGen還宣布與通用汽車合作的GaN主驅項目已獲得美國能源部 (DoE) 的資助——使用NexGen的垂直GaN器件來開發的電力驅動系統。
信越化學是離垂直GaN量產最近的一家企業,其主要掌握兩個關鍵技術,有望將材料成本降低90%:一是用GaN工程襯底實現了1800V耐壓,2019年信越化學獲得了美國QROMIS的(QST)工程襯底專利許可;二是襯底剝離技術,QST襯底至今未被大規模商用的原因在于缺乏高效剝離技術,信越化學聯合日本沖電氣工業(OKI)開發了CFB(晶體膜鍵合)技術,實現了GaN功能層與QST襯底的分離,同時還很好地解決缺陷問題,從而使高質量的QST襯底得到極大的改進。
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博世對垂直GaN也躍躍欲試。2022年,消息稱博世在采用一家GaN初創公司的外延技術開發垂直氮化鎵器件。
一些初創公司也在關注垂直GaN。2022年報道顯示,隆德大學的衍生公司Hexagem正在開創一種垂直納米線生長工藝,與現今典型的橫向GaN器件相比,這些垂直GaN器件每平方厘米包含的缺陷要少得多,這對英飛凌和意法半導體等器件制造商來說是個好消息。
國內方面,中鎵科技曾宣布制備的垂直型GaN–on-GaN SBD器件同時實現了較高的擊穿電壓和較低的開啟電壓,以上各項數據均達到國際領先水平,與已報道的傳統垂直型GaN SBD相比表現出了優異的特性。此外,在2022年,中鎵科技宣布與北京大學、波蘭國家高壓實驗室開展了合作,使用乙烯氣源制備出了世界最高電阻率的半絕緣GaN自支撐襯底。
此外,在硅襯底上,廣東致能全球首次實現了垂直的GaN/AIGaN結構生長和垂直的二維電子氣溝道(2DEG)。以此為基礎廣東致能實現了全球首個具有垂直2DEG的常開器件(D-mode HEMT)和垂直常關器件(E-mode HEMT)。
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近兩年來,增強型(E-mode)和耗盡型(D-mode)GaN兩條技術路線也在推動著高耐壓氮化鎵器件的技術研發與量產進程。值得關注的是,在藍寶石襯底的助力下,已有多家氮化鎵企業成功實現了1200V器件的技術突破,比如英諾賽科、致能、Transphorm、Fraunhofer。
總之,為了讓GaN更加大有可為,行業人士一直關注1200V以上耐壓的GaN,相比昂貴的藍寶石襯底,垂直GaN的確是一條不錯的路線。
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