德國新帕泰克有限公司于2004年在中國成立代表處,目前代表處總部位于蘇州工業園區,為長三角地區的客戶提供更便捷的服務。同時,在北京設有當地辦公室,以服務華北區域。此外,在廣州、青島、南京、成都、西安和濟南等地設有當地的銷售與售后工程師,為客戶提供專業支持。
公司自進入中國市場以來,在國內已經累積近2000臺儀器的成功安裝案例,主要應用于化工、醫藥、食品、電池、磁材、水泥、非金屬礦、增材、食品、陶瓷、冶金、地質研究等行業。
新帕泰克作為專業粒度粒形分析儀生產商,在國內提供售前技術交流、應用咨詢、樣品測試、技術服務和售后支持等一體化服務,致力于為客戶提供高質量的儀器和專業的解決方案,以滿足不同行業的需求。
光學成像是粒形分析最常用的方法之一,基于測試過程中顆粒狀態的不同,通常分為靜態與動態圖像分析兩種方法。動態圖像法(DIA),測試過程中顆粒處于運動狀態。德國新帕泰克QICPIC采用動態圖像法技術,系統搭載自動分散裝置,用于分散并輸送被檢顆粒體系,樣品經由分散系統進行充分分散后通過測量區,并由快速成像系統進行連續采集,幾分鐘內即可測試幾萬甚至上千萬個顆粒的信息。
高速動態圖像分析儀QICPIC突破性優勢
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1.測試范圍:0.55-33,792 μm
2.動態圖像法測試:結合高效分散系統,利用高速攝像頭拍攝運動中的分散顆粒流,通過專業分析軟件對每個顆粒的粒度和粒形同時進行精確測量和分析。
3.模塊化設計:可結合多種分散系統,滿足不同材料的測試需求
4.多樣化粒度、粒形評估模式:可以從多個維度精確描述半導體材料顆粒的大小和形狀特征。
粒度評估模式:EQPC徑、Feret徑、CHORD徑等
粒形評估模式:球形度、寬長比、凸度、圓度等
5.顆粒圖庫功能:可使用特定過濾條件查詢超規顆粒(如EQPC徑 > 100μm的顆粒),追溯其產生的原因,及時優化工藝參數。
6.直觀數據呈現:提供粒度、粒形分布圖、散點圖、表格及詳細的圖文報告;支持導出顆粒圖像、粒徑和粒形信息,以及測試過程記錄的顆粒流錄像。
7.與其他方法具有可比性:檢測結果與傳統篩分法、激光衍射法具有良好的對比性,為企業提供了可靠的參考和驗證手段。
動態粒度粒形(圖像)分析儀可以對顆粒材料的粒度與粒形同時進行分析和評估,為各種材料的研發和生產提供全面的支持。
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