對于剛?cè)胄械姆庋b設計工程師(Package Design Engineer)而言,最常遇到的設計問題往往集中在結(jié)構(gòu)理解、Design Rule 應用、信號與熱仿真意識不足、以及工藝與設計的脫節(jié)這幾個方面小編按階段和類型系統(tǒng)梳理如下:
一、封裝結(jié)構(gòu)與初期規(guī)劃問題(Floorplan / Die Placement)
Die 尺寸與 Pad Ring 不匹配
→ 導致 Bond Wire 拱高過大、交叉或短路風險。
→ 新人往往忽略 die edge clearance、corner chamfer、bond finger offset 等要求。IO 分布不均勻
→ 導致布線擁塞或 RDL 難以收斂。
→ 需在 early stage 就進行 IO grouping 與 functional block mapping。忽略散熱路徑規(guī)劃
→ 封裝底部缺乏熱通道(例如 GND Pad 區(qū)域不足或無 exposed pad)。
→ 建議在 floorplan 初期定義好 thermal via 區(qū)域或金屬 slug。
Pad Pitch 與 Bond Finger Pitch 不匹配
→ 導致無法滿足最小 wire angle、間距或跨層 wire 限制。
→ 應在設計前明確封裝廠 bonding 規(guī)則(如 min loop height、wire dia、pitch)。未考慮金線交叉或 Wire Sweep 風險
→ 特別是在雙排或多 die bonding 時。
→ 需使用 bonding 仿真(如 Ansys Q3D)或?qū)嶋H可制造性驗證。未區(qū)分電源 / 信號 / GND Pad 的布線優(yōu)先級
→ 導致回流路徑差、SI 問題。
→ 需在設計初期區(qū)分 power domain 并優(yōu)化布局。
Ball Map 未考慮客戶板端走線方向或 via 限制
→ 導致后續(xù) PCB Layout 難度增加。
→ 建議與系統(tǒng)設計團隊協(xié)同定義 signal escape routing pattern。Via Pitch / Stack-up 不滿足基板廠能力
→ 設計超出制造能力(例如 blind via aspect ratio、trace width/space)。
→ 必須在設計初期確認 substrate DRC rule(BT vs ABF)。Power/GND Distribution 不均衡
→ PI 分析不通過,出現(xiàn)電源完整性波動。
→ 可通過多層 power plane、stitch via 優(yōu)化。
缺少 early-stage 仿真意識
→ 設計完成后才發(fā)現(xiàn) SI 反射、串擾問題。
→ 建議在 die–package–board 聯(lián)合仿真階段驗證走線模型。Thermal 模型簡化過度
→ 使用均勻材料參數(shù)而忽略金線、mold compound 的熱路徑差異。
→ 應采用詳細層疊結(jié)構(gòu)(stack-up)與實際功耗分布進行熱分析。未考慮共模干擾或 return path continuity
→ 特別在高速接口(如 DDR、SerDes)封裝中容易出錯。
設計超出封裝廠能力(如 min via、trace、mask gap)
→ DFM 審核不通過,需反復修改。
→ 新人應學會解讀封裝廠 Design Rule Document(DRD)。忽略 Assembly 過程中的 warpage、void、delamination 風險
→ 特別是在厚封裝或大尺寸 BGA 中。
→ 可通過仿真或材料選擇提前評估。未考慮后段測試(ATE/Socket)需求
→ Ball map 設計與測試探針 pitch 不兼容,導致額外 tooling 成本。
未按規(guī)范提交設計文件(如 APD 數(shù)據(jù)、Gerber、ODB++、bonding diagram)
缺少版本管控與變更記錄
→ 常見于多次迭代項目,易導致版本混亂。忽略 Design Rule / Checklist 審核流程
→ 造成早期問題延后暴露。
早期階段多問:與 substrate fab、bonding house、hardware team 建立溝通渠道。
多驗證:任何異常的走線、角度或材料假設,都應用仿真驗證。
重文檔與規(guī)范化:保持設計可追溯性。
理解“量產(chǎn)導向”:不僅設計能跑通,更要確保可制造、可良率控制、可成本優(yōu)化。
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