半導(dǎo)體不容易,PIE 更不容易。但堅(jiān)持的人,都很了不起。
1. WAT(Wafer Acceptance Test)
大白話:晶圓流完前段工藝后的“體檢報(bào)告”,看身體(電性)好不好。WAT 不好,其它都白干。
2. CP(Chip Probe)
大白話:晶圓切片前的“摸底考試”,看每顆芯片能不能上大學(xué)。CP 掉得狠,PIE 心會(huì)痛。
3. CPK(Process Capability Index)
大白話:制程穩(wěn)不穩(wěn)、漂不漂的評(píng)分,越大越穩(wěn),越小越鬧心。CPK 是良率的底氣,也是 PIE 的膽氣。
4. DOE(Design of Experiment)
大白話:有計(jì)劃、有組織的實(shí)驗(yàn)方案,不是亂試,是搞清楚“啥影響了啥”。會(huì)做 DOE 的 PIE,救火時(shí)能靠腦子,不靠跪著祈禱。
5. Lot(批次)
大白話:你的“孩子”。每批都代表你的臉面。Lot 是 PIE 的孩子,掉良率比掉錢包還心疼。
6. Flow(制程流程)
大白話:產(chǎn)品怎么在 fab 里“走一圈”的路線圖。Flow 不熟,PIE 就像蒙著眼開車。
7. DRC(Design Rule Check)
大白話:檢查客戶畫的圖有沒有超出工廠能力。設(shè)計(jì)畫錯(cuò)一根線,PIE 得哭到第二天。
8. SPC(Statistical Process Control)
大白話:用統(tǒng)計(jì)圖盯著制程,防止機(jī)臺(tái)偷偷“發(fā)瘋”。SPC 是制程的脾氣表,曲線抖一下,PIE 就睡不著。
9. OOC(Out of Control)
大白話:制程數(shù)據(jù)跑偏,失控了,要馬上救。OOC 一響,PIE 心慌。
10. OOS(Out of Spec)
大白話:直接超規(guī),已經(jīng)不是偏了,是犯法了。OOC 是警告,OOS 是判刑。
11. RCA(Root Cause Analysis)
大白話:找事情真正的元兇,不找對(duì),問題永遠(yuǎn)反復(fù)整你。RCA 找不對(duì),下次異常會(huì)“加倍奉還”。
12. PC(Process Change)
大白話:任何 recipe、設(shè)備、材料的變更,都叫 PC,需要評(píng)估風(fēng)險(xiǎn)。PC 沒評(píng)估好,良率會(huì)讓你明白什么叫代價(jià)。
13. Qual(Qualification)
大白話:認(rèn)證新產(chǎn)品、新材料、新制程能不能穩(wěn)定量產(chǎn)。Qual 是能力,過不了就是笑話。
14. Scrap
大白話:報(bào)廢,真的什么都救不回來了。Scrap 一多,PIE 的 KPI 也“廢了”。
15. Inline
大白話:線上制程中的中間量測(cè),不是最終電性,但能幫你提前發(fā)現(xiàn)問題。Inline 是風(fēng)向標(biāo),懶得看的人遲早被風(fēng)暴刮走。
16. PR(Photoresist)光刻膠
大白話:光刻時(shí)用的膠,太薄、太厚、沒涂勻,都會(huì)鬧事。光刻膠不聽話,后面都得跟著挨打。
17. Overlay
大白話:層與層之間有沒有對(duì)準(zhǔn),不準(zhǔn)就等著變廢片。Overlay 差一點(diǎn),晶圓哭一片。
18. Defect(缺陷)
大白話:wafer 上各種污染、刮傷、顆粒的統(tǒng)稱。Defect 是所有良率事故的開場(chǎng)白。
19. PFA(Physical Failure Analysis)
大白話:把芯片拆開、剖開、挖開,看它哪里壞了。PFA 是解剖臺(tái),真兇藏在顯微鏡下。
20. Tape-out / NPI(新產(chǎn)品導(dǎo)入)
大白話:新產(chǎn)品的第一次流片,也是PIE的“大考”。Tape-out 做得好,以后是穩(wěn)扎穩(wěn)打;Tape-out 做糟了,后面天天救火。
最后送給所有 PIE 工程師一句話:
“我們盯的是數(shù)據(jù),扛的是壓力,守的是產(chǎn)品的命。 別人看不見我們的辛苦,但良率永遠(yuǎn)不會(huì)騙我們。”
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