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PART1
研討會基本信息
NI測試測量技術研討會再次由深圳起航,以AI+測試為主題,走遍十個城市,與全國各地朋友相聚,共同探討AI+測試的落地,共贏智能測試的未來。
活動時間
2025年12月10日(星期三)
13:30-17:10(12點開始簽到)
活動地點
深圳威斯汀酒店 宴會廳1+2
(地址:深南大道9028-2號)
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碼上報名
NI測試測量技術研討會深圳站
PART2
為什么參會?
分享最新AI+測試進展,深入探討如何實現(xiàn)技術落地
技術專家面對面分享:最新測試技術成果,提高測試精度技巧,并為您解讀各種疑難問題
多款全新軟硬件產(chǎn)品發(fā)布,AI助手Nigel?,全新PXI控制器/機箱/模塊,全新DAQ產(chǎn)品,全新USRP產(chǎn)品
PART3
誰適合參加?
測試測量工程師、研發(fā)工程師
工程團隊負責人,技術總監(jiān)
院校及研究所研究人員
LabVIEW愛好者,開發(fā)者
PART4
日程安排
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PART5
實機展示
NI Nigel? AI助手體驗
通過配置快速完成PXI自動化測試任務(InstrumentStudio?軟件展示)
快速完成傳感器配置與數(shù)據(jù)記錄(FlexLogger?軟件展示)
射頻通信原型驗證平臺USRP更新
全新數(shù)據(jù)采集產(chǎn)品(DAQ)更新
24bit高精度模數(shù)轉換芯片(ADC)芯片測試系統(tǒng)
多通道、大電流電源管理芯片(PMIC)測試系統(tǒng)
全新雙通道矢量信號收發(fā)儀VST-5860
在看點一下
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