Phenom Pharos G2：桌面級場發射掃描電鏡的科研應用潛力分析

Phenom Pharos G2：桌面級場發射掃描電鏡的科研應用潛力分析

在材料科學與微觀分析的探索中，科研人員往往面臨著一個兩難的選擇：是追求落地式場發射電鏡（FE-SEM）的極致分辨率，忍受其龐大的體積、苛刻的環境要求和復雜的制樣流程？還是妥協于普通臺式電鏡的便捷，卻在成像質量上止步不前？

荷蘭飛納（Phenom） 給出的答案是：不妥協。

Phenom Pharos G2 臺式場發射電鏡的出現，打破了“高性能”與“小體積”不可兼得的魔咒。作為全球首款搭載肖特基場發射電子源（Schottky FEG）的臺式掃描電鏡，它將科研級的分辨率裝進了桌面級的機身里，讓微觀世界的探索變得前所未有的自由與高效。

1. 核心突破：低電壓下的極致清晰

傳統的鎢燈絲電鏡在低電壓下往往成像模糊，而 Pharos G2 得益于高亮度的肖特基場發射電子源，展現了驚人的物理性能。

? 分辨率優于 1 nm：這不僅是數據的提升，更是視野的質變。

? 低電壓成像優勢：即使在低加速電壓下，依然能獲得銳利圖像。這意味著對于絕緣材料、聚合物、生物組織等對電子束敏感的樣品，能夠顯著降低熱損傷和穿透效應，還原最真實的表面細節。

2. 效率革命：告別繁瑣，即刻成像

在分秒必爭的研發與質檢現場，時間就是成本。Pharos G2 將“用戶體驗”提升到了新的維度：

? 無需噴金，直接觀測：內置的真空鎖設計與低真空模式，允許直接觀察不導電樣品。告別費時的金屬鍍膜前處理，保留樣品原始狀態。

? 15秒極速抽真空：從放入樣品到出圖，僅需一杯咖啡抿一口的時間。

? 全自動化操作：結合彩色光學顯微鏡導航與自動馬達樣品臺，30分鐘即可培訓上手。無論是資深專家還是實習生，都能輕松駕馭。

3. 全能集成：形貌與成分的一站式分析

它不僅僅是一臺顯微鏡，更是一個微觀分析工作站。設備集成了三大核心功能，無需切換設備即可完成完整表征：

? 背散射電子成像 (BSE)：快速判斷成分分布與襯度。

? 二次電子成像 (SE)：清晰捕捉表面形貌與立體結構。

? 集成能譜分析 (EDS)：高速、穩定地進行元素成分定性與定量分析。

4. 穩如磐石：適應各種復雜環境

不同于落地式電鏡對安裝環境的“挑剔”，Pharos G2 專為適應性而生。

? 免防震臺設計：內置 27 組獨立減震模塊，有效隔離環境震動。無論是擁擠的學校實驗室、繁忙的企業研發室，還是空間狹小的辦公區，它都能穩定運行。

? 免維護電子光路：免調節、免對中設計，極大降低了后期維護難度與成本，確保了設備長期運行的一致性。

適用領域與應用場景

Pharos G2 的多功能性使其成為跨學科研究的理想伙伴：

? 新能源與鋰電：正負極粉末形貌分析、隔膜微孔結構觀測。

? 半導體與微電子：晶圓缺陷檢測、封裝工藝驗證。

? 材料科學：金屬斷口分析、納米陶瓷微觀結構、高分子復合材料研究。

? 生物與制藥：生物組織結構觀察、藥物微球分析。

為什么選擇 Phenom Pharos G2？

在同類產品中，Pharos G2 以其獨特的定位解決了傳統電鏡的痛點：

特性

傳統落地式 FE-SEM

普通臺式 SEM

Phenom Pharos G2

電子源

場發射 (FEG)

鎢燈絲/六硼化鑭

肖特基場發射 (FEG)

分辨率

極高 (<1nm)

一般 (>3nm)

科研級 (<1nm，STEM模式)

占地面積

需要獨立機房

桌面級

桌面級 (無需機房)

抽真空時間

3-5 分鐘

1-3 分鐘

< 15 秒

防震要求

極高 (需防震臺)

一般

內置防震 (適應性強)

Pharos G2 不僅僅是一臺設備，它是連接宏觀制造與微觀機理的橋梁，讓科研級的分析能力觸手可及。

如果您希望在您的實驗室見證 Phenom Pharos G2 的實力，或需要獲取詳細的技術參數、配置清單及報價，請隨時與我們聯系。

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