編者語:
“這種“一前一后”的排版頗具象征意義,兩項工作在同一期刊前后呼應(yīng),也從不同層面構(gòu)建了AET方法學的“地基”和“框架”。Zuo et al.更側(cè)重于回答 “在什么實驗條件下可以做成”,通過系統(tǒng)限定樣品尺寸、成分復雜度以及電子束劑量與采樣密度,明確了AET從“可行”到“可靠”的物理邊界;而Miao et al.則進一步回答了“如何把數(shù)據(jù)真正用好”,從算法與流程層面給出了可復制、可推廣的完整解決方案。二者結(jié)合,使AET不再只是概念驗證或個案展示,而是逐步發(fā)展為一套可標準化、可量化評估誤差的三維原子表征技術(shù)。”
01

背景介紹
非晶材料(Amorphous materials,缺乏長程周期性有序結(jié)構(gòu)的固體體系),其原子排列不遵循晶體材料中嚴格重復的晶格規(guī)則,卻往往在短程和中程尺度上保留一定的局域有序特征。正是這種“無序而不雜亂”的結(jié)構(gòu),使非晶材料在眾多關(guān)鍵技術(shù)中展現(xiàn)出不可替代的優(yōu)勢。當前,非晶材料已廣泛應(yīng)用于薄膜電子學、太陽能電池、相變存儲器、磁性器件、醫(yī)療植入材料以及新興的量子信息技術(shù)等領(lǐng)域(圖1),對現(xiàn)代信息社會和高端制造起著基礎(chǔ)性支撐作用。
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圖1. 非晶材料的應(yīng)用
然而,非晶材料缺乏平移對稱性這一根本特征,也給其結(jié)構(gòu)解析帶來了巨大挑戰(zhàn)。與晶體材料可以通過衍射技術(shù)精確確定原子位置不同,非晶材料無法依賴布拉格衍射在原子分辨率上直接重構(gòu)三維結(jié)構(gòu)(圖2),這在很大程度上制約了人們對其結(jié)構(gòu)-性能關(guān)系的深入理解。
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圖2. 晶體材料和非晶材料的結(jié)構(gòu)和表征技術(shù)(AI)
近年來,圍繞非晶材料的短程有序和中程有序結(jié)構(gòu),研究者在理論模型、散射實驗和計算模擬等方面取得了重要進展,但要在實驗上定量獲得非晶材料中完整、真實的三維原子排布,仍然對表征手段提出了極高要求。在這一背景下,原子分辨層析成像(Atomic Electron Tomography, AET;圖3)作為一種新興的結(jié)構(gòu)表征技術(shù),為非晶材料的三維原子圖譜繪制提供了直接而可行的途徑,有望從根本上推動非晶材料結(jié)構(gòu)研究進入原子級、三維化和定量化的新階段。
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圖3. AET技術(shù)的原理示意圖
2026年01月28日,伊利諾伊大學Robert Busch,左建民(Jian-Min Zuo)團隊在Nature期刊發(fā)表題為“Limit of atomic-resolution-tomography reconstruction of amorphous nanoparticles”的研究論文。同時,加州大學洛杉磯分校Yuxuan Liao和 Jianwei Miao團隊在Nature期刊發(fā)背靠背表題為“Accurate determination of the 3D atomic structure of amorphous materials”的研究論文。Zuo et al.的研究明確了適用于原子分辨層析成像AET的納米粒子尺寸、組成、電子通量及圖像采樣要求。該研究結(jié)果為未來的實驗設(shè)計提供了基準,并可利用AET驗證非晶結(jié)構(gòu)。Miao et al.的研究對原子電子斷層掃描進行了定量分析,闡明了穩(wěn)健的圖像預(yù)處理、去噪、投影對準與歸一化、先進的斷層掃描重建、原子追蹤、元素分類以及原子位置精修等步驟如何協(xié)同作用,實現(xiàn)對非晶態(tài)材料中三維原子坐標和元素種類的可靠測定。
02

圖文解析
1.文獻1:Nature, 649, 1119-1122 (2026)
《非晶納米顆粒原子分辨率斷層掃描重建的極限》
(1)研究背景與問題
盡管AET技術(shù)在測定非晶材料三維原子結(jié)構(gòu)方面展現(xiàn)出潛力,但對其在噪聲、電子劑量等現(xiàn)實實驗條件下的準確性和可靠性缺乏系統(tǒng)性的評估與界定。
(2)研究方法
通過模擬AET實驗,系統(tǒng)性地改變了非晶納米顆粒(從單質(zhì)Si到多元SiGeSn、CoPdPt)的尺寸、成分、電子劑量和圖像采樣參數(shù),以評估這些因素對原子定位精度和化學識別能力的影響。
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圖4. 兩種入射電子通量條件下,小尺寸非晶硅納米粒子的重建效果
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圖5. 計算層析成像質(zhì)量,隨電子通量與納米粒子尺寸變化關(guān)系
(3)核心發(fā)現(xiàn)
1)原子定位:對于單質(zhì)非晶硅納米顆粒,只有在高電子劑量(如1.6×105e-/?2)下才能準確識別所有原子,位置精度在數(shù)十皮米量級。劑量降低或顆粒增大都會導致偽原子出現(xiàn)和定位精度下降。
2)化學識別:對于多元納米顆粒,化學識別能力高度依賴于信噪比。重原子(如Sn, Pt)較輕原子(如Si, Co)更易識別。當原子峰的強度與背景噪聲重疊時,會產(chǎn)生巨大的化學分析不確定性。該文獻模擬結(jié)果顯示,在類似條件下,對CoPdPt中Co的識別率僅為~40%。
3)技術(shù)要求:研究明確了成功AET所需的條件,包括樣品尺寸需與顯微鏡景深匹配、減少缺失楔效應(yīng)、滿足最低電子劑量和圖像采樣要求等。
4)意義:該研究為AET實驗設(shè)計提供了重要的基準和警示,強調(diào)了在解讀AET結(jié)果,特別是化學識別結(jié)果時,必須充分考慮實驗條件帶來的固有不確定性。
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圖6.基于計算層析成像的化學識別
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圖7. 圖像信息容量與深度(層級數(shù) NL)的測量及其相互關(guān)系
2.文獻2:Nature, 649, 1123-1129 (2026)
《非晶材料三維原子結(jié)構(gòu)的精確測定》
(1)研究背景與問題
AET技術(shù)流程復雜,每個環(huán)節(jié)的微小偏差都可能導致最終原子坐標和元素識別的系統(tǒng)性誤差。需要建立一個可靠、定量的工作流程來實現(xiàn)高保真的三維重建。
(2)研究方法
提出了一個集成的、優(yōu)化的AET工作流程,包括穩(wěn)健的圖像預(yù)處理與去噪、先進的RESIRE斷層重建算法、系統(tǒng)的后處理(原子追蹤、元素分類、位置優(yōu)化)。使用與前述文獻相同的模型納米顆粒進行模擬,但采用了更先進的模擬和重建方法,并進行了直接的“頭對頭”比較。
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圖8. 208-原子和19,993-原子非晶硅納米粒子的三維重建與原子追蹤
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圖9. 13,982-原子非晶硅鍺錫納米粒子的三維原子定位與元素識別
(3)核心發(fā)現(xiàn)
1)性能顯著提升:其工作流程在原子識別率和三維位置精度上大幅優(yōu)于前述文獻中報道的方法。例如,對于208個原子的非晶Si顆粒,在相同劑量下,其位置精度(5皮米)比前述文獻的結(jié)果提升了一倍以上。
2)高精度化學識別:對復雜的CoPdPt納米顆粒,實現(xiàn)了Co (95.1%), Pd (99.0%), Pt (100%)的高準確率元素識別,相應(yīng)的三維位置精度分別為29 pm, 12 pm, 6 pm。研究指出前述文獻結(jié)果不佳的主要原因在于投影未對準和強度歸一化不當。
3)pAET技術(shù)的優(yōu)勢:展示了基于電子疊層衍射的pAET技術(shù)具有更高的劑量效率,在低劑量下也能成功解析輕元素非晶SiO2的原子結(jié)構(gòu)和中程有序(如原子環(huán)分布)。
4)意義:該研究確立了實現(xiàn)精確AET的實用指南和定量基準,證明了通過系統(tǒng)性的流程優(yōu)化,AET能夠可靠地測定非晶材料的三維原子結(jié)構(gòu),并將該技術(shù)的應(yīng)用潛力提升到了新的高度。
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圖10. 18,356-原子非晶鈷鈀鉑納米粒子的三維原子定位與元素識別。
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圖11. 原子分辨層析成像pAET(劑量為1.6×103電子/平方埃)重建的7,704原子非晶二氧化硅納米粒子的三維原子結(jié)構(gòu)與中程有序
03

總結(jié)
這兩篇文獻圍繞“原子級電子斷層成像技術(shù)測定非晶材料三維原子結(jié)構(gòu)”這一前沿課題,在同一期雜志上發(fā)表研究成果,形成了一場精彩的學術(shù)對話。兩篇文獻的本質(zhì)區(qū)別在于視角和側(cè)重點。文獻1如同一個“質(zhì)檢員”,嚴謹?shù)貏澇鯝ET技術(shù)的“安全操作紅線”,警示研究者注意其局限性和誤差來源。文獻2則如同一個“工程師”,致力于改進工藝流程,展示如何通過技術(shù)創(chuàng)新將AET的性能推向極致。二者共同勾勒出該技術(shù)領(lǐng)域的全貌:既有令人振奮的潛力,也有必須正視的挑戰(zhàn)。
文獻信息
1. Robert Busch, Peter Rez, Michael M. J. Treacy & Jian-Min Zuo, Limit of atomic-resolution-tomography reconstruction of amorphous nanoparticles, Nature, 2026, 649, 1119-1122.
2. Yuxuan Liao, Haozhi Sha, Colum M. O’Leary, Hanfeng Zhong, Yao Yang & Jianwei Miao, Accurate determination of the 3D atomic structure of amorphous materials, Nature, 2026, 649, 1123-1129.
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