福建
近日，忱芯科技自主研發的全自動SiC MOSFET晶圓老化測試系統（WLBI）順利完成出貨交付國內龍頭企業。此次交付不僅展示了忱芯科技在全自動晶圓級老化測試裝備領域的創新能力，也為客戶大規模生產與質量提升提供了更加高效、穩定的測試保障。
作為面向全自動SiC MOSFET晶圓級老化測試的核心設備，忱芯科技WLBI測試系統在自動化、兼容性與穩定性方面表現突出：
1
高兼容·高效的自動化架構
- 支持HTGB / HTRB多模式測試及多層Mix Run混合測試
- 先進自動化與視覺算法，顯著提升 WPH，實現不同晶圓快速切換
2
探卡全兼容與先進熱沉設計
- 支持HTGB / HTRB測試探卡全機型兼容
- 支持高溫長時老化測試，有效解決晶圓異色挑戰
3
高可靠晶圓上下料與精準對準
- 支持高翹曲晶圓吸附，有效解決劃痕、破片等測試難題
- 自動針痕檢測，實現扎針狀態的精準判定
4
功能完善、可擴展的測試系統
- 支持動態測試模式升級
- 支持門極負壓能力及Pre-condition測試擴展，滿足更苛刻、更精準的可靠性驗證需求。
忱芯科技將繼續深耕功率半導體測試設備領域，為行業提供更加專業、可靠、高效測試解決方案，與客戶共同推動功率半導體產業發展與技術進步。
感謝信任，繼續向前！
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