AFM綜述：范德華異質結中的界面工程：通過結構與功能修飾提升光電探測器效率

二維材料及其范德華異質結構在光電器件中展現出巨大潛力，尤其是在光電探測器方面。然而，要充分發揮其性能，關鍵在于精確控制異質結構中二維材料之間的界面。界面工程已成為材料科學中的核心策略，通過調控層間相互作用、能帶排列和電荷轉移動力學，顯著提升光電探測器的性能。

本綜述南方科技大學Waqas Ahmad、Yury Illarionov和電子科技大學王志明等人首先介紹了評估光電探測器性能的關鍵指標，然后概述了范德華異質結構的基本原理，重點討論了其光電特性。文章進一步總結了近年來在界面工程方面的進展，包括表面鈍化、缺陷工程和接觸工程等，這些方法共同提升了光電探測器的光學性能。此外，還探討了偏振探測與多光譜成像等新功能，為光電子學領域開辟了新的可能性。最后，文章展望了未來研究方向，包括利用機器學習優化光電探測技術。

研究亮點：

1. 界面工程是提升二維材料光電探測器性能的關鍵，通過調控能帶結構、缺陷態和接觸界面，顯著提高響應度、探測率和響應速度。

2. 多種界面工程策略被系統總結，包括混合維度異質結構、缺陷調控、表面鈍化、接觸工程等，為器件優化提供了豐富工具箱。

3. 新興應用前景廣闊，如偏振敏感探測、多光譜成像等，結合機器學習輔助設計，推動光電探測器向多功能、智能化方向發展。

W. Ahmad, J. Kazmi, M. Z. Nawaz, et al. “ Interface Engineering in Van der Waals Heterostructures: Enhancing Photodetector Efficiency through Structural and Functional Modifications.” Adv. Funct. Mater. (2025): e16893.

https://doi.org/10.1002/adfm.202516893

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