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微光顯微鏡（Emission Microscope,EMMI）是用來做故障點定位、尋找亮點、熱點(Hot Spot)的工具，通過測量樣品加偏壓所釋放出來的光子來定位故障點。EMMI可廣泛應用于偵測各種組件缺陷所產生的漏電流，包括閘極氧化層缺陷(Gate oxide defects)、靜電放電破壞(ESD Failure)、閂鎖效應(Latch Up)、漏電(Leakage)、接面漏電(Junction Leakage) 、順向偏壓(Forward Bias)及在飽和區域操作的晶體管。
| 項目概述
微光顯微鏡（Emission Microscope,EMMI）是用來做故障點定位、尋找亮點、熱點(Hot Spot)的工具，通過測量樣品加偏壓所釋放出來的光子來定位故障點。EMMI可廣泛應用于偵測各種組件缺陷所產生的漏電流，包括閘極氧化層缺陷(Gate oxide defects)、靜電放電破壞(ESD Failure)、閂鎖效應(Latch Up)、漏電(Leakage)、接面漏電(Junction Leakage) 、順向偏壓(Forward Bias)及在飽和區域操作的晶體管。
| 測試目的
通過EMMI定位技術，快速準確地找到樣品中的熱點或亮點位置，進而分析缺陷產生的原因。這一技術不僅提高了故障點定位的效率，還為后續的失效分析提供了有力支持，有助于縮短產品研發周期，降低生產成本。
| 服務產品/領域
1、半導體材料：檢測材料中的缺陷和雜質。
2、器件缺陷檢測：識別并定位器件中的故障點。
3、集成電路：分析集成電路中的失效原因。
4、材料科學：研究材料的光電特性和失效機制。
5、納米技術：在納米尺度上定位和分析故障點。
| 項目優勢
1、靈敏度高：能夠捕捉到微弱的光子信號，確保故障點的精確定位。
2、波長探測范圍廣：覆蓋近紅外波段，提供更廣泛的探測能力。
3、非破壞性檢測：無需對樣品進行破壞性處理，保護了樣品的完整性。
4、廣泛應用領域：適用于半導體材料、器件缺陷檢測、集成電路、材料科學及納米技術等多個領域。
| 美信優勢
1、專業團隊：擁有多名經驗豐富的檢測工程師和技術專家。
2、先進設備：配備國際領先的檢測設備，確保檢測結果的準確性和可靠性。
3、高效服務：快速響應客戶需求，提供一站式高效檢測服務。
4、權威認證：實驗室通過ISO/IEC 17025認證，檢測報告具有國際公信力。
美信檢測實驗室
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