適合長期科研使用的掃描電鏡品牌有哪些？選型邏輯一次講清

以飛納（Phenom）為例，系統(tǒng)解析掃描電鏡全系列、應(yīng)用場景及選型建議

飛納電鏡（Phenom）品牌概述

飛納電鏡（Phenom）源自 FEI，誕生于荷蘭“發(fā)明之城”埃因霍溫，以“任何人都可用的電鏡”聞名，旨在讓掃描電鏡測試簡單高效。2025 年，飛納在中國擁有超過 2500 名科研用戶，包括高校、中科院等研究院所、政府機構(gòu)，以及新能源、生命科學(xué)等企業(yè)單位。研究領(lǐng)域涵蓋金屬及合金、電池、地質(zhì)、考古、高分子、靜電紡絲、陶瓷、復(fù)合材料、生物醫(yī)學(xué)及微生物等。

制樣優(yōu)勢：操作便捷，無需噴金即可觀察不導(dǎo)電樣品。

飛納臺式掃描電鏡亮點

? 成像速度比傳統(tǒng)電鏡提升 10 倍

? 獨家長壽CeB6六硼化鈰燈絲設(shè)計，平均 5年以上更換

? 安裝環(huán)境寬容，高樓層亦可穩(wěn)定使用

? 原廠集成能譜（EDS）

? AI自動化掃描功能，支持編程，提高測試效率

01.電鏡選型邏輯

長期科研型 SEM 選型原則

核心不在最高參數(shù)，而在穩(wěn)定性、可重復(fù)性與自動化能力。

系列一 | 臺式場發(fā)射系列掃描電鏡

特點：完全防震、低電壓成像、能譜一體化、環(huán)境適應(yīng)性強，高分辨

適用：科研、納米材料、半導(dǎo)體、太陽能、生命科學(xué)

推薦型號：

Pharos STEM 掃描透射電鏡（分辨率優(yōu)于 1nm，BF/DF/HAADF 模式）

Pharos G2（分辨率優(yōu)于 1.5nm，放大倍數(shù) 2,000,000X）

Nano G2（分辨率優(yōu)于 2.5nm，放大倍數(shù) 1,000,000X）

系列二 | 六硼化鈰燈絲（CeB6）系列掃描電鏡

特點：CeB6 晶體燈絲，高分辨成像，15s 抽真空、30s 成像

推薦型號：

Phenom XL 大樣品室卓越版（AI 自動掃描，多維度數(shù)據(jù)采集）

Phenom ProX / Pro / Pure（高性價比臺式 SEM，集成 EDS，可選 SED）

系列三 | ParticleX 全自動掃描電鏡

特點：自動識別、分析及分類顆粒，快速定量數(shù)據(jù)支持

應(yīng)用：鋰電清潔度分析（Cu、Zn、Fe 異物）、汽車零件清潔度、鋼鐵夾雜物分析

推薦型號：ParticleX Battery / TC / Steel

系列四 | 刑偵司法鑒定專用掃描電鏡

Phenom GSR：槍擊殘留物分析，識別 Pb、Sb、Ba 等元素

Diatom AI：硅藻檢測全自動化，AI 輔助識別，無需人工干預(yù)

02. SEM 樣品制備

SEMPREP SMART：高/低能量氬離子槍，樣品無應(yīng)力加工

應(yīng)用：半導(dǎo)體、鋰離子電池截面分析

特點：

? ±1μm 精準(zhǔn)定位

? 氬離子束能量 0-16KV

? 可選液氮 LN2 冷卻

? 超大樣品腔（直徑 50mm）

? 真空轉(zhuǎn)移可選

應(yīng)用案例：

? 焊錫截面分析：銀-錫膏與銅結(jié)合界面觀察

焊錫截面掃描電鏡 EDS 能譜面掃結(jié)果

? 氧化鋁陶瓷材料掃描

? 半導(dǎo)體失效分析

半導(dǎo)體失效分析（掃描電鏡圖）

? 鋰電正極極片微觀形貌分析

鋰電池正極極片掃描電鏡圖

結(jié)語

選擇長期科研使用的掃描電鏡，關(guān)鍵在穩(wěn)定性、易用性與自動化能力。飛納電鏡（Phenom）全系列產(chǎn)品覆蓋從臺式場發(fā)射到自動化分析、司法鑒定及多模態(tài)實驗，滿足科研與工業(yè)不同需求，是高性價比、可長期投入的理想選擇。